32.768KHz晶振測試儀

1．概述

CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測量。 CX-118A晶振測試儀測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時(shí)間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計(jì)數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F₀、分檔值P_r1～P_r8(ppm) 、上限頻率F_U、下限頻率F_L可任意設(shè)定并能存儲(chǔ)。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

2．主要特征

 2．1 本機(jī)采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)，測量精度高，測量范圍寬，真正實(shí)現(xiàn)等精度測量，測量速度快，靈敏度高。

2．2 采用單片微機(jī)技術(shù)進(jìn)行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能／價(jià)格比。

2．3 整機(jī)采用大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)，CPLD器件的運(yùn)用，使儀器元器件大為減少，可靠性有了很大的提高，平均無故障工作時(shí)間≥10000h。

• 整機(jī)外型美觀大方，體積小，重量輕，使用方便。

3．技術(shù)參數(shù)

3.1 測量范圍

• 頻率測量：A通道:1Hz～100MHz；

B通道:100MHz～1.6GHz(選件)

• 周期測量：A通道:10ns～1s
• PPM測量：-9999～9999ppm
• 上、下限測量：可根據(jù)用戶所設(shè)定的上限參數(shù)F_U、下限參數(shù)F_L來測量被測頻率是否超出上、下限，超限則報(bào)警。
• 分檔測量：根據(jù)用戶所設(shè)定的中心頻率F₀自動(dòng)進(jìn)行分檔測量。 分檔值：P_r1～P_r8可在1～999ppm之間任意設(shè)置

分檔檔數(shù)：以中心頻率F₀為中點(diǎn)左右分成16檔

• 累加計(jì)數(shù)：計(jì)數(shù)容量：0～10⁹－1 (選件)

計(jì)數(shù)方式：鍵控、門控或外門控可選。

3.2 輸入特性

• 輸入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω

3.2.2 輸入耦合方式：AC

3.2.3 波形適應(yīng)性：正弦波、脈沖波

• 輸入電壓動(dòng)態(tài)范圍:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB 帶寬約100kHz

3.2.6 A通道衰減：×1或×20

3.3 測量誤差

3.3.1 頻率或周期測量誤差：±時(shí)基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）

閘門時(shí)間

觸發(fā)誤差：當(dāng)被測信號(hào)的信噪比為40dB時(shí)，觸發(fā)誤差≤0.3%

• PPM測量誤差：±時(shí)基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

其中：LSD＝(100ns/閘門時(shí)間)×10⁶ppm

例如：閘門時(shí)間=1s時(shí) LSD＝0.1ppm

閘門時(shí)間=0.1s時(shí) LSD＝1ppm

3.3.3 計(jì)數(shù)誤差：±1

3.4閘門時(shí)間

固定閘門：10ms、100ms、1s、10s 四檔可選；

可調(diào)閘門：50ms～95ms 分10檔，每檔間隔5ms。

3.5 晶體振蕩器

標(biāo)稱頻率：10MHz

頻率穩(wěn)定度：5×10^-6/d

（可根據(jù)用戶需求，選配更高量級(jí)的晶振。

如：1×10^-6/d、5×10^-7/d、1×10^-7/d等）。

3.6 外頻標(biāo)輸入

輸入頻率：10MHz

輸入幅度：>1Vp～p 正弦波

3.7 顯示

13位0.4吋綠色高亮數(shù)碼管，三個(gè)單位LED指示燈（MHz、kHz、Hz），一個(gè)閘門LED指示燈(GATE)，一個(gè)外頻標(biāo)LED指示燈(EXT)和一個(gè)PPM單位指示燈（PPM）。

3.8 電源

電壓：交流220V±10%

頻率：50Hz±5%

功耗：<8VA

3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)

3.10 質(zhì)量：<1.5kg